Líneas de investigación
Aplicación de Estudios métricos aplicados a Archivología que respondan a las necesidades archivísticas en el proceso de Evaluación Documental y otros posibles alcances (identificación, traslados, medición de datos en entorno digital)
Presentación
(Presentación).
Docente/s responsable/s
Integrantes del grupo pertenecientes a la FIC
Alejandra Villar
Profesor/a agregado/a
Lourdes Ramos
Integrantes del grupo que no pertenecen a la FIC
Prof. Adj. Dr. Juan Piccini G° 3 (Facultad de Ingeniería)
Departamentos y Secciones
Departamento Fuentes Documentales, Recursos y Servicios de Información
Instituto de Información